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原子力顯微鏡

原子力顯微鏡是一種高解析度的掃描探針式顯微術,可應用於奈米等級的影像解析。利用其懸臂上的探針掃描樣品的表面,幾乎可以對任何類型的表面進行成像分析,包括聚合物、複合材料和生物樣品等。這種顯微鏡系統對於表面結構物化性分析、微奈米級結構組成的研究而言,是一個實驗室必備的工具。由精浚開發的Crabi原子力顯微鏡系統,專門設計為奈米教育、基礎科學研究與相關技術訓練所用。

1. 體積輕巧
2. 品質可靠
3. 高性價比
4. 最佳方案
5. 專利設計
型號 : ​Crabi-AFM

精浚科技研發製造的CrabiAFM系統專門設計為奈米教育、基礎研究以及相關技術訓練使用。創新的核心專利技術能在最緊緻的系統體積下提供可靠的影像結果。CrabiAFM必定是滿足您需求的最佳解決方案。


Crabi-AFM

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材料檢測